La invención describe un método para alinear los facetados de un heliostato en un campo solar, donde un heliostato objetivo (HO) está situado detrás de un heliostato de referencia (HR). El método comprende: orientar el heliostato objetivo (HO) y el heliostato de referencia (HR) de manera que se enfrenten entre sí; obtener una imagen mediante un dispositivo de adquisición de imágenes (DAI) fijado a una cara trasera de una faceta de referencia (FR) del heliostato de referencia (HR), dicha imagen contiene al menos la faceta de referencia (FR) reflejada en al menos una faceta objetivo (FO); comparar características de la faceta de referencia (FR) en la imagen obtenida (I) con características teóricas correspondientes a una alineación correcta de la faceta objetivo (FO); y corregir la alineación de la faceta objetivo (FO) de manera que se eliminen los errores identificados. También se describe un heliostato diseñado para llevar a cabo el método.